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布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀

產品簡介:

布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質,與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于...

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布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質,與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于這些應用程序,生長晶體的質量就變得很重要。布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀用于檢測晶體和基質的處理。
如果您需要布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器,均可聯絡我司銷售部門:0731-84284278 84284378。
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